韓國嶺南大學教授Ja-soon JANG 介紹了GaN基發(fā)光二極管器件可靠性特性分析方法技術報告。他表示，發(fā)光二極管（LED）技術已經(jīng)迅速發(fā)展以滿足LED應用領域的各種需求，如汽車照明，手術照明和IT可控智能照明。 隨著LED的重要性越來越大，可靠性問題越來越重要。 他分享了最近的可靠性問題，并考慮到可以解決可靠性問題的可行方法。為此，我們從遺傳個體和外部誘導的退化因素、復雜因素和觸發(fā)因子等方面進行研究，新提出了影響LED可靠性行為的邊界條件（芯片和封裝之間）以及影響因素，以確保LED的哪些部分易受