德國達(dá)姆施塔特工業(yè)大學(xué)研究助理Ferdinand KEIL帶來了題為加速測試條件下高品質(zhì)低成本的LED電源壽命對比性研究的主題報(bào)告，介紹了一項(xiàng)關(guān)于高端LED驅(qū)動(dòng)和低成本LED驅(qū)動(dòng)的對比研究。研究采用了多種加速測試的方法確定器件的壽命，其中包括溫度、濕度、偏差測試（THB）等。一些測試中重要的參數(shù)都會被記錄下來。同時(shí)失效分析和失效模式都會跟實(shí)驗(yàn)記錄做對比。比較常見的失效原因是電腐蝕，其一般常出現(xiàn)在低成本器件中，因?yàn)橥ǔ＿@些設(shè)