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王宏躍:Investigation of Defect Characteristics in GaN Layers With Different Carbon Doping Concentration

視頻WBSC 20212025-02-03 00:38
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Investigation of Defect Characteristics in GaN Layers With Different Carbon Doping Concentration作者:王宏躍,許實清,周斌,施宜軍,付志偉,陳思,路國光,黃云,王金延單位:工業(yè)和信息化部電子第五研究所,北京大學(xué)
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