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武漢大學研究員張召富:4H-SiC MOSFET中界面碳團簇的形成和遷移率退化機理

視頻IFWS > IFWS20222025-01-26 13:51
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4H-SiC MOSFET中界面碳團簇的形成和遷移率退化機理Interfacial Carbon Cluster Formation and Mobility Degradation in 4H-SiC MOSFETs張召富武漢大學工業(yè)科學研究院研究員ZHANG ZhaofuProfessor of The Institute of Technological Sciences, Wuhan University
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