近日，由國家半導(dǎo)體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟（CSA）與第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟（CASA）主辦，南方科技大學(xué)微電子學(xué)院與北京麥肯橋新材料生產(chǎn)力促進(jìn)中心有限公司共同承辦的第十七屆中國國際半導(dǎo)體照明論壇（SSLCHINA 2020）暨2020國際第三代半導(dǎo)體論壇（IFWS 2020）在深圳會展中心召開。

 

期間，由中電化合物半導(dǎo)體有限公司協(xié)辦的“微波射頻與5G移動通信”技術(shù)分會上，荷蘭Ampleon Netherlands B.V.的陳松帶來了“研發(fā)轉(zhuǎn)量產(chǎn)：射頻功率器件量產(chǎn)階段零失效目標(biāo)下的挑戰(zhàn)和實(shí)踐”的主題報(bào)告。闡述了GaN射頻功率技術(shù)，特別是實(shí)現(xiàn)零缺陷的制造卓越領(lǐng)域中的“什么”和“如何”。
 

GaN射頻功率技術(shù)已經(jīng)在商業(yè)應(yīng)用中找到了自己的路，比如移動寬帶基站放大器，以及最近用于5G應(yīng)用的大規(guī)模MIMO。許多公司即將進(jìn)入（或剛剛進(jìn)入）產(chǎn)品量產(chǎn)階段。然而，大規(guī)模生產(chǎn)并非一帆風(fēng)順。要在終端用戶端實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)量、零缺陷和高性價(jià)比的產(chǎn)品，還有相當(dāng)多的技術(shù)挑戰(zhàn)。報(bào)告在充分理解可靠性物理的基礎(chǔ)上，闡述失效機(jī)理分析、篩選策略和試驗(yàn)條件優(yōu)化等技術(shù)問題。還分享和討論現(xiàn)實(shí)生活中的例子（最佳實(shí)踐）。此外，還討論了制造業(yè)未來的卓越挑戰(zhàn)。

結(jié)合具體實(shí)例，報(bào)告指出，缺陷、篩選、產(chǎn)量成品率……是制造階段實(shí)現(xiàn)零缺陷最重要的挑戰(zhàn)性項(xiàng)目。對每一種缺陷及其位置，要徹底理解 其本證 和非本證 可靠性機(jī)理。  建立精確的非本征可靠性模型是設(shè)置合適篩選條件的關(guān)鍵。 精確的篩選條件一方面可以確保客戶端的產(chǎn)品可靠性，同時也在本單位及供應(yīng)商的質(zhì)量改進(jìn)過程中提供及時反饋。 通過PDCA循環(huán)推動量產(chǎn)成品率的提高也非常重要。

（內(nèi)容根據(jù)現(xiàn)場資料整理，如有出入敬請諒解）