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IFWS 第三代半導體標準與檢測研討會邀請函

日期:2023-01-12 閱讀:244
核心提示:為探討進一步推動器件、測試、應(yīng)用等領(lǐng)域的技術(shù)融合,加快相關(guān)技術(shù)成果產(chǎn)業(yè)化,完善相應(yīng)標準化體系,促進細分應(yīng)用領(lǐng)域產(chǎn)業(yè)鏈上下

為探討進一步推動器件、測試、應(yīng)用等領(lǐng)域的技術(shù)融合,加快相關(guān)技術(shù)成果產(chǎn)業(yè)化,完善相應(yīng)標準化體系,促進細分應(yīng)用領(lǐng)域產(chǎn)業(yè)鏈上下游合作交流,第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟標準化委員會(CASAS)借第八屆國際第三代半導體論壇(IFWS)召開之際,組織舉辦“第三代半導體標準與檢測研討會”。

 

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