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品牌推薦│睿勵(lì)科學(xué)儀器誠邀您相聚CSE化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)

日期:2024-03-13 閱讀:360
核心提示:睿勵(lì)科學(xué)儀器(上海)有限公司將攜新品亮相本屆盛會(huì),誠邀業(yè)界同仁蒞臨A316展臺(tái)參觀、交流合作。

 2024年4月9-11日,一年一度化合物半導(dǎo)體行業(yè)盛會(huì)——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)(簡稱“JFSC&CSE”)將于武漢光谷科技會(huì)展中心舉辦。睿勵(lì)科學(xué)儀器(上海)有限公司將攜新品亮相本屆盛會(huì),誠邀業(yè)界同仁蒞臨A316展臺(tái)參觀、交流合作。

睿勵(lì)科學(xué)儀器(上海)有限公司邀請(qǐng)函 

本屆CSE博覽會(huì)由第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟、九峰山實(shí)驗(yàn)室共同主辦,以“聚勢(shì)賦能 共赴未來”為主題,將匯集全球頂尖的化合物半導(dǎo)體制造技術(shù)專家、行業(yè)領(lǐng)袖和創(chuàng)新者,采用“示范展示+前沿論壇+技術(shù)與商貿(mào)交流”的形式,為產(chǎn)業(yè)鏈的升階發(fā)展搭建供需精準(zhǔn)對(duì)接平臺(tái),助力企業(yè)高效、強(qiáng)力拓展目標(biāo)客戶資源,加速驅(qū)動(dòng)中國化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的完善和升級(jí)。 

CSE作為2024年首場(chǎng)國際化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)得到了多方力量的大力支持,三大主題展區(qū),六大領(lǐng)域,將集中展示各鏈條關(guān)鍵環(huán)節(jié)的新技術(shù)、新產(chǎn)品、新服務(wù),將打造化合物半導(dǎo)體領(lǐng)域的標(biāo)桿性展會(huì)。助力打造全球化合物半導(dǎo)體平臺(tái)、技術(shù)、產(chǎn)業(yè)的燈塔級(jí)盛會(huì),集中展示化合物半導(dǎo)體上下游全產(chǎn)業(yè)鏈產(chǎn)品,搭建企業(yè)發(fā)布年度新產(chǎn)品新技術(shù)的首選平臺(tái),支撐產(chǎn)業(yè)鏈及中部地區(qū)建設(shè)具有全球影響力的萬億級(jí)光電子信息產(chǎn)業(yè)集群。 

圖層 1

睿勵(lì)科學(xué)儀器(上海)有限公司是位于上海張江高科技園區(qū)的集成電路裝備制造企業(yè)。公司成立于2005年,致力于開發(fā)、生產(chǎn)和銷售具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)及核心技術(shù)的集成電路芯片工藝檢測(cè)設(shè)備,有深厚的技術(shù)歷史底蘊(yùn),主要產(chǎn)品在集成電路芯片制造、LED、OLED、光通訊等領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用且都有相當(dāng)?shù)氖姓悸省?/p>

 產(chǎn)品介紹

光學(xué)膜厚量測(cè)設(shè)備

光學(xué)膜厚量測(cè)設(shè)備 

主要特點(diǎn)

l 適用于Si/SiC/GaN等集成電路制造前后道生產(chǎn)線,3D NAND制造生產(chǎn)線, DRAM制造生產(chǎn)線

l 可量測(cè)介質(zhì)材料、半導(dǎo)體硅化物材料、超薄金屬材料半導(dǎo)體薄膜的厚度、折射率和吸收系數(shù)

l 可測(cè)量晶圓襯底應(yīng)力 

l 量測(cè)范圍覆蓋10A~40um

l 0.1nm數(shù)量級(jí)的超精密量測(cè)

光學(xué)關(guān)鍵尺寸量測(cè)

光學(xué)關(guān)鍵尺寸量測(cè) 

 主要特點(diǎn)

l 適用于集成電路制造前后道,3D NAND, DRAM等制造生產(chǎn)線 

l 可應(yīng)用于顯影后檢查(ADI)、刻蝕后檢查(AEI)等多種工藝段的二維或三維樣品的線寬、側(cè)壁角度(SWA)、高度(Height)/深度等關(guān)鍵尺寸(CD)特征或整體形貌測(cè)量 

l 可測(cè)量二維多晶硅柵極刻蝕(PO)、隔離槽(STI)、隔離層(Spacer)、雙重曝光(Double Patterning)或三維連接孔(VIA)、鰭式場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FinFET)、閃存(NAND)等 

l 具有高速、準(zhǔn)確和非破壞性等特點(diǎn)

光學(xué)缺陷檢測(cè)設(shè)備

光學(xué)缺陷檢測(cè)設(shè)備 

主要特點(diǎn)

l 適用于LED、化合物半導(dǎo)體以及光通訊等領(lǐng)域

l 可檢測(cè)缺陷類型:顆粒、污染、圖形缺少、劃傷、圖形黏連、殘留等 

l 具備晶圓全表面檢測(cè)、自動(dòng)缺陷分類以及高分辨率的缺陷復(fù)查功能

 

值此之際,我們誠邀業(yè)界同仁共聚本屆盛會(huì),蒞臨展位現(xiàn)場(chǎng)參觀交流、洽談合作。

關(guān)于JFSC&CSE 2024

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