極智報告|韓國嶺南大韓國嶺南大學(xué)教授Ja-soon JANG 介紹了GaN基發(fā)光二極管器件可靠性特性分析方法技術(shù)報告。他表示,發(fā)光二極管(LED)技術(shù)已經(jīng)迅速發(fā)展以滿足LED應(yīng)用領(lǐng)域的各種需求,如汽車照明,手術(shù)照明和IT可控智能照明。 隨著LED的重要性越來越大,可靠性問題越來越重要。
他分享了最近的可靠性問題,并考慮到可以解決可靠性問題的可行方法。為此,我們從遺傳個體和外部誘導(dǎo)的退化因素、復(fù)雜因素和觸發(fā)因子等方面進行研究,新提出了影響LED可靠性行為的邊界條件(芯片和封裝之間)以及影響因素,以確保LED的哪些部分易受
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