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廈門大學電子科學系教授、福建省半導體照明工程技術(shù)研究中心副主任呂毅軍分享了《基于顯微高光譜成像技術(shù)的發(fā)光器件/陣列表面光熱特性分布測試》研究報告。他介紹說，顯微高光譜成像技術(shù)結(jié)合高光譜和顯微技術(shù)，獲得探測目標的二維幾何空間及一維光譜信息的數(shù)據(jù)立方。同時具有高空間分辨率和高光譜分辨率的優(yōu)點。是進行微小發(fā)光器件/陣列表面光譜探測的理想工具。我們基于顯微高光譜開發(fā)了發(fā)光器件/陣列表面光熱二維分布測試技術(shù)。

封裝可靠性的評估是非常重要的環(huán)節(jié)，會上香港科技大學陶勉做了題為用于封裝可靠性評估的熱機測試芯片的設計與制備的報告。

德國達姆施塔特工業(yè)大學研究助理Ferdinand KEIL帶來了題為加速測試條件下高品質(zhì)低成本的LED電源壽命對比性研究的主題報告，介紹了一項關(guān)于高端LED驅(qū)動和低成本LED驅(qū)動的對比研究。研究采用了多種加速測試的方法確定器件的壽命，其中包括溫度、濕度、偏差測試（THB）等。一些測試中重要的參數(shù)都會被記錄下來。同時失效分析和失效模式都會跟實驗記錄做對比。比較常見的失效原因是電腐蝕，其一般常出現(xiàn)在低成本器件中，因為通常這些設

北京工業(yè)大學光電子技術(shù)省部共建教育部重點阿實驗室教授郭偉玲分享了光功率計算對LED熱阻測試的影響主題報告。她表示，熱阻是衡量LED性能的重要參數(shù)，在LED熱阻測試中，其電能不僅轉(zhuǎn)化成熱能，還有20%或更多的能量轉(zhuǎn)化為光能。而目前大部分的熱阻測試儀并非專門為測試LED設計，且對是否計算光耗散功率的標準并不統(tǒng)一?！　⊥ㄟ^標準電學參數(shù)法分別對不同封裝（仿流明，SMD2835，XB-D封裝）相同輸出功率（1W）的正裝LED；相同封裝（S

美國俄亥俄州立大學的呂忠林教授分享了“下一代可視測試：快速CSF”新近研究報告。呂忠林教授專注于知覺與認知的大腦建模研究，主要包括視覺與聽覺的計算機建模與心理物理研究、知覺學習、知覺與注意加工、學習與記憶、閱讀及人類決策的腦功能成像研究、閱讀障礙、弱視及阿爾茨海默癥患者的視覺損傷等?，F(xiàn)為俄亥俄州立大學社會與行為科學杰出終身教授，心理學、眼視光、和轉(zhuǎn)化型大數(shù)據(jù)分析教授，認知與腦科學中心主任、認知與行為腦影像中心主任，國際頂級期刊《Psychological Review》副主編。 呂忠林 他表示，對比靈

德凱宜特科技LED工程部實驗室主管陳冠瑋先生分享了AEC Q102-2017 車用LED標準說明及可靠性測試實務報告；報告中對全球三大LED組件規(guī)范，車用組件測試項目規(guī)范做一些說明和介紹。就目前LED來講，失效比率較高。車用一般照明光源的失效模式可分為以下幾種：膠材-劣化、封裝-水氣侵入、結(jié)構(gòu)-金球斷裂、焊點-吃錫不良、芯片-高溫光衰、支架-硫化/遷移等。汽車使用過程中還存在雨淋、廢氣、酸雨、震動、沖擊、電源不穩(wěn)也都會影響車燈的使用。監(jiān)控產(chǎn)品的失效，就必須要設定專用的LED規(guī)范。他表示，現(xiàn)如今車用電子類的