亚洲日韩久久|国偷自产一区二区三区蜜臀国|国产一区二区日韩|99热这里只亚洲无码,无码

【CASICON 2021】蘇州晶湛半導(dǎo)體向鵬:用于新型GaN功率器件的外延技術(shù)進(jìn)展

日期:2021-09-17 來源:半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)網(wǎng)閱讀:381
核心提示:蘇州晶湛半導(dǎo)體研發(fā)經(jīng)理向鵬博士帶來了“用于新型GaN功率器件的外延技術(shù)進(jìn)展”的主題報(bào)告。在演講中,晶湛半導(dǎo)體成功展示了一系列用于200V、650V和1200V功率半導(dǎo)體器件的高質(zhì)量300mm GaN-on-Si HEMT外延片,并且具有優(yōu)異的厚度均勻性和低晶圓翹曲,這為使用更復(fù)雜精密的300mm CMOS兼容工藝線進(jìn)行氮化鎵芯片制備鋪平了道路。
9月13-14日,“2021中國(guó)(南京)功率與射頻半導(dǎo)體技術(shù)市場(chǎng)應(yīng)用峰會(huì)(CASICON 2021)”在南京召開。本屆峰會(huì)由半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)網(wǎng)、第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)主辦,并得到了南京大學(xué)、第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟的指導(dǎo)。
向鵬
會(huì)上,蘇州晶湛半導(dǎo)體研發(fā)經(jīng)理向鵬博士帶來了“用于新型GaN功率器件的外延技術(shù)進(jìn)展”的主題報(bào)告。在演講中,晶湛半導(dǎo)體成功展示了一系列用于200V、650V和1200V功率半導(dǎo)體器件的高質(zhì)量300mm GaN-on-Si HEMT外延片,并且具有優(yōu)異的厚度均勻性和低晶圓翹曲,這為使用更復(fù)雜精密的300mm CMOS兼容工藝線進(jìn)行氮化鎵芯片制備鋪平了道路。 
 
大尺寸Si襯底上GaN外延技術(shù)的突破,將GaN的卓越特性和CMOS兼容加工線的生產(chǎn)優(yōu)勢(shì)結(jié)合在一起,使GaN-on-Si功率器件具有優(yōu)異的性能和可靠性。如今,基于GaN-on-Si HEMT技術(shù)平臺(tái)的商用GaN功率器件已獲得巨大的發(fā)展機(jī)遇,GaN功率器件正在加速進(jìn)入消費(fèi)電子、工業(yè)電子、數(shù)據(jù)中心、能源、汽車和交通等廣闊的功率芯片應(yīng)用領(lǐng)域,在進(jìn)一步降低芯片成本和進(jìn)行復(fù)雜電路設(shè)計(jì)和集成的驅(qū)動(dòng)下,更大的晶圓尺寸已經(jīng)成為行業(yè)的發(fā)展方向。
 
繼2014年成功推出商用200mm GaN-on-Si HV HEMT外延片后,晶湛半導(dǎo)體已成功將其AlGaN/GaN HEMT外延工藝轉(zhuǎn)移到300mm Si襯底上,同時(shí)保持了優(yōu)異的厚度均勻性和50?m以內(nèi)的低晶圓翹曲。垂直電壓擊穿測(cè)量表明,300mm尺寸的晶圓同樣適合于200V、650V和1200V功率器件應(yīng)用(圖1)。
 
 
圖1:晶湛半導(dǎo)體300mm GaN-on-Si HEMT外延片系列(200V,650V,1200V擊穿電壓應(yīng)用)厚度均勻性分布圖和垂直擊穿電壓分布圖(漏電流=1?A/mm2@ RT)
 
為解決GaN外延中的晶圓開裂/彎曲和高晶體缺陷等關(guān)鍵問題,晶湛半導(dǎo)體此次發(fā)布的300mm GaN-on-Si HEMT結(jié)構(gòu)外延片采用了如圖2(a)所示的外延結(jié)構(gòu)。外延生長(zhǎng)從AlN形核層開始,然后是應(yīng)力弛豫緩沖層、GaN溝道層、AlGaN勢(shì)壘層和GaN帽層。如圖2(b)所示,窄的XRD AlN(002)峰和良好的半高寬均勻性表明整個(gè)300mm晶圓的晶體質(zhì)量較高。
 
 
圖2:(a)晶湛半導(dǎo)體300mm GaN-on-Si HEMT外延結(jié)構(gòu)示意圖
 
(b)AlN成核層XRD(002) FWHM分布圖, Avg=743arcsec(Std=2%)
 
圖3展示了從晶圓中心到晶圓邊緣的9個(gè)位置處測(cè)得的AlGaN勢(shì)壘層中的鋁成分含量及2DEG載流子濃度。測(cè)量結(jié)果顯示AlGaN勢(shì)壘中鋁成分的平均值為19.9%,標(biāo)準(zhǔn)差為0.68%(圖3a),表明300mm晶圓具有均勻的2DEG電學(xué)特性。CV測(cè)試同樣證實(shí)了這一點(diǎn),測(cè)試結(jié)果顯示平均電子濃度為7.2E12 cm^-2,標(biāo)準(zhǔn)偏差<2%(圖3b)。
 
 
圖3:晶湛半導(dǎo)體300mm AlGaN/GaN HEMT外延片中勢(shì)壘層Al組分含量分布和2DEG濃度分布
 
晶湛半導(dǎo)體創(chuàng)始人兼CEO,程凱博士評(píng)論道:“基于我們優(yōu)化的AlN成核層技術(shù),我們能夠在高達(dá)300mm的大尺寸硅襯底上生長(zhǎng)無裂紋的GaN HEMT外延片,并且滿足相應(yīng)的漏電流要求。盡管在300mm大晶圓尺寸下,外延工藝、應(yīng)力管理和缺陷控制方面都存在巨大挑戰(zhàn),我們?nèi)栽贏lGaN/GaN HEMT外延片中實(shí)現(xiàn)了優(yōu)異的結(jié)構(gòu)質(zhì)量和電性能。這必將鼓勵(lì)大功率集成電路的發(fā)展,推動(dòng)片上系統(tǒng)(SoC)的集成并進(jìn)一步降低GaN功率器件的成本。
 
晶湛半導(dǎo)體已成為國(guó)內(nèi)首屈一指的氮化鎵外延片供應(yīng)商,并具備了一定的國(guó)際影響力和競(jìng)爭(zhēng)力。2014年底,晶湛半導(dǎo)體就率先在全球首次發(fā)布商用8英寸硅基氮化鎵外延片產(chǎn)品,經(jīng)有關(guān)下游客戶驗(yàn)證,該材料具備全球領(lǐng)先的技術(shù)指標(biāo)和卓越的性能,填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)氮化鎵產(chǎn)業(yè)的空白。經(jīng)過多年的專注發(fā)展,晶湛半導(dǎo)體已經(jīng)與全球數(shù)百家知名半導(dǎo)體科技企業(yè)、高校科研院所客戶建立廣泛深入的合作,并多次與合作伙伴聯(lián)合在行業(yè)頂級(jí)期刊Nature Electronics,IEEE Electron Device Letters,及國(guó)際頂級(jí)會(huì)議IEDM等發(fā)布相關(guān)創(chuàng)新成果,引起國(guó)際半導(dǎo)體界的廣泛關(guān)注和一致好評(píng)。
 
打賞
聯(lián)系客服 投訴反饋  頂部