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華為新型3D DRAM成果亮相集成電路國際頂會

日期:2022-05-23 來源:半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)網(wǎng)閱讀:386
核心提示:據(jù)悉,華為公司將于集成電路領(lǐng)域頂會-VLSI Symposium 2022上,發(fā)表其與中科院微電子研究所合作開發(fā)的3D DRAM技術(shù)。
據(jù)悉,華為公司將于集成電路領(lǐng)域頂會-VLSI Symposium 2022上,發(fā)表其與中科院微電子研究所合作開發(fā)的3D DRAM技術(shù)。
 
報道稱,華為與中科院方面開發(fā)了基于銦鎵鋅氧(IGZO)材料的CAA(Channel-All-Around)構(gòu)型晶體管,具有出色的溫度穩(wěn)定性和可靠性。
 
根據(jù)此前報道,在去年舉辦的IEDM 2021上,中科院微電子所李泠研究員團隊聯(lián)合華為/海思團隊,首次提出了新型垂直環(huán)形溝道器件結(jié)構(gòu)(CAA),該結(jié)構(gòu)有效減小了器件面積,且支持多層堆疊,通過將上下兩個CAA器件直接相連,每個存儲單元的尺寸可減小至4F2,使IGZO-DRAM擁有了密度優(yōu)勢,有望克服傳統(tǒng)1T1C-DRAM的微縮挑戰(zhàn)。
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