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華為公布倒裝芯片封裝最新專利!

日期:2023-08-17 閱讀:362
核心提示:據(jù)悉,2023年8月15日,華為技術(shù)有限公司公開了一項名為具有改進(jìn)的熱性能的倒裝芯片封裝專利,申請公布號為CN116601748A。圖片來
據(jù)悉,2023年8月15日,華為技術(shù)有限公司公開了一項名為“具有改進(jìn)的熱性能的倒裝芯片封裝”專利,申請公布號為CN116601748A。
 
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圖片來源:國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)截圖
 
根據(jù)摘要,該專利提供了一種倒裝芯片封裝(200),其中,所述倒裝芯片封裝包括:至少一個芯片(202),用于與基板(201)連接;形成在所述基板(201)上的模制構(gòu)件(209),以包裹所述至少一個芯片(202)的側(cè)部分并使每個芯片(202)的頂表面裸露,其中,所述模制構(gòu)件(209)的上表面具有與每個芯片(202)的頂表面連續(xù)的第一區(qū)域、涂抹粘合劑(210)的第二區(qū)域以及放置成包圍每個芯片(202)的頂表面的壁狀結(jié)構(gòu)(209a),并且第一區(qū)域和第二區(qū)域由壁狀結(jié)構(gòu)(209a)分隔;散熱器(206),放置在每個芯片(202)的頂表面上方,并通過填充在第二區(qū)域中的粘合劑(210)粘合到模制構(gòu)件(209);熱界面材料(205),所述熱界面材料(205)填充在由所述第一區(qū)域、所述每個芯片(202)的頂表面、所述散熱器(206)的底表面的至少一部分和所述壁狀結(jié)構(gòu)(209a)的第一側(cè)形成的空間區(qū)域中。
 
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圖片來源:華為專利文件
 
該專利指出,近來,半導(dǎo)體封裝在處理性能方面的進(jìn)步對熱性能提出了更高的要求,以確保穩(wěn)定操作。就此而言,倒裝芯片封裝在熱性能方面具有優(yōu)勢,因?yàn)樗慕Y(jié)構(gòu)特征是芯片通過其下方的凸塊與基板連接,能夠?qū)⑸崞鞫ㄎ辉谛酒捻敱砻嫔稀榱颂岣呃鋮s性能,會將熱潤滑脂等熱界面材料(TIM)涂抹到芯片的頂表面,并夾在芯片和散熱器的至少一部分之間。從降低TIM中的熱阻以改善封裝的熱性能的角度來看,優(yōu)選使TIM的厚度更小。
 
據(jù)介紹,該專利實(shí)施例提供了一種倒裝芯片封裝、一種裝備有應(yīng)用封裝結(jié)構(gòu)的電路的裝置以及一種組裝封裝的方法,即為一種提供芯片與散熱器之間的接觸方式,有助于改善散熱性能。在模制過程中,該專利可輕松控制由模具化合物組成的壁狀結(jié)構(gòu)的高度,因此可以將熱界面材料的厚度調(diào)節(jié)到所需的小厚度,從而實(shí)現(xiàn)改進(jìn)的熱性能。
 
該專利可應(yīng)用于CPU、GPU、FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)、ASIC(專用集成電路)等芯片類型,設(shè)備可以是智能手機(jī)、平板電腦、可穿戴移動設(shè)備、PC、工作站、服務(wù)器等。
 
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