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凌光紅外再獲新融資,進(jìn)一步拓展半導(dǎo)體失效分析等領(lǐng)域應(yīng)用

日期:2024-04-17 閱讀:248
核心提示:近日,蘇州凌光紅外科技有限公司再獲一輪融資,本輪融資由啟高資本投資,將幫助凌光紅外繼續(xù)拓展在半導(dǎo)體失效分析、生物成像、材

近日,蘇州凌光紅外科技有限公司再獲一輪融資,本輪融資由啟高資本投資,將幫助凌光紅外繼續(xù)拓展在半導(dǎo)體失效分析、生物成像、材料檢測(cè)等領(lǐng)域的應(yīng)用。2024年1月,凌光紅外剛宣布完成數(shù)千萬元的A輪融資,由IDG資本、飛圖創(chuàng)投領(lǐng)投,蘇高新融享跟投,資金主要用于已有電性失效分析設(shè)備的擴(kuò)產(chǎn)、下一代失效分析設(shè)備研發(fā)以及市場(chǎng)開拓與推廣。

蘇州凌光紅外科技有限公司成立于2021年12月,專注于高端實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)儀器的國產(chǎn)化。據(jù)悉,自2022年12月以來,在半導(dǎo)體電性失效分析領(lǐng)域,凌光紅外先后推出了制冷型鎖相紅外顯微鏡(Thermo 100)、非制冷型鎖相紅外顯微鏡(Thermo 50)、微光顯微鏡(InGaAs 100)等檢測(cè)設(shè)備,在多個(gè)應(yīng)用方向(終端、晶圓、功率器件、專業(yè)三方檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室等)分別交付于頭部客戶。

失效分析(FA)是芯片工藝中的重要一環(huán),用于定位和分析半導(dǎo)體芯片中的失效問題,對(duì)很多關(guān)鍵行業(yè)具有重要意義。在電子元器件的生產(chǎn)、 測(cè)試和使用階段,還可以通過失效分析及時(shí)發(fā)現(xiàn)失效和查找失效原因并提高生產(chǎn)效率。

 

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