據(jù)天眼查顯示，通富微電子股份有限公司 “半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的控制方法及半導(dǎo)體測試系統(tǒng)”專利公布，申請公布日為2024年9月17日，申請公布號為CN118655433A。 

本公開涉及半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，提供一種半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的控制方法及半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，測試系統(tǒng)包括通訊連接的測試設(shè)備和搬運(yùn)設(shè)備，方法包括：測試設(shè)備通過掃描測試工單生成測試程序調(diào)用指令和控制參數(shù)調(diào)用請求指令，將二者分別發(fā)至測試程序服務(wù)器和搬運(yùn)設(shè)備，接收測試程序服務(wù)器基于測試程序調(diào)用指令發(fā)送的測試程序；搬運(yùn)設(shè)備將基于控制參數(shù)調(diào)用請求指令生成的控制參數(shù)調(diào)用指令發(fā)至搬運(yùn)設(shè)備參數(shù)服務(wù)器，接收搬運(yùn)設(shè)備參數(shù)服務(wù)器基于該指令發(fā)送的設(shè)備控制參數(shù)；測試設(shè)備基于測試程序?qū)y試工單包括的半導(dǎo)體器件進(jìn)行測試，搬運(yùn)設(shè)備基于設(shè)備控制參數(shù)對半導(dǎo)體器件進(jìn)行搬運(yùn)。本公開可消除測試程序與搬運(yùn)設(shè)備控制參數(shù)不匹配的風(fēng)險，提高測試系統(tǒng)工作效率。