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捷捷微電“一種縱向變摻雜的IGBT結(jié)構(gòu)及制備方法”專利公布

日期:2025-02-05 閱讀:208
核心提示:天眼查顯示,江蘇捷捷微電子股份有限公司一種縱向變摻雜的IGBT結(jié)構(gòu)及制備方法專利公布,申請(qǐng)公布日為2024年11月15日,申請(qǐng)公布號(hào)

 天眼查顯示,江蘇捷捷微電子股份有限公司一種縱向變摻雜的IGBT結(jié)構(gòu)及制備方法專利公布,申請(qǐng)公布日為20241115日,申請(qǐng)公布號(hào)為CN118969825A

 

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種縱向變摻雜的IGBT結(jié)構(gòu)及制備方法。它包括第一導(dǎo)電類型的半導(dǎo)體襯底。所述半導(dǎo)體襯底的正面有元胞區(qū)。其特點(diǎn)是,所述半導(dǎo)體襯底的背面與集電極結(jié)構(gòu)間有過(guò)渡區(qū)。所述過(guò)渡區(qū)包括依次覆蓋在半導(dǎo)體襯底背面的電場(chǎng)緩變層和場(chǎng)截止層,所述集電極結(jié)構(gòu)覆蓋在場(chǎng)截止層的背面。所述電場(chǎng)緩變層為第一導(dǎo)電類型的變摻雜層,所述場(chǎng)截止層為第一導(dǎo)電類型的重?fù)诫s層。采用該IGBT結(jié)構(gòu)可避免后續(xù)電場(chǎng)抬高導(dǎo)致的器件失效的情況。

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