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【CASICON 2021】啟迪半導體鈕應喜:碳化硅外延裝備及技術進展

日期:2021-09-14 來源:半導體產(chǎn)業(yè)網(wǎng)閱讀:991
核心提示:啟迪半導體研發(fā)總監(jiān)鈕應喜帶來了“碳化硅外延裝備及技術進展”的主題報告,報告指出,碳化硅外延發(fā)展至今從理論、設備、工藝技術等方面已經(jīng)取得很大的進展。
9月13-14日,“2021中國(南京)功率與射頻半導體技術市場應用峰會(CASICON 2021)”在南京召開。會議圍繞碳化硅、氮化鎵、砷化鎵、氧化鎵、金剛石等材料在電力電子、5G射頻領域的技術進展與創(chuàng)新應用,助推相關領域市場產(chǎn)品國產(chǎn)化替代。本屆峰會由半導體產(chǎn)業(yè)網(wǎng)、第三代半導體產(chǎn)業(yè)主辦,并得到了南京大學、第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟的指導。
鈕應喜
會上,啟迪半導體研發(fā)總監(jiān)鈕應喜帶來了“碳化硅外延裝備及技術進展”的主題報告,報告指出,碳化硅外延發(fā)展至今從理論、設備、工藝技術等方面已經(jīng)取得很大的進展。理論方面:首先是臺階流模型的提出,其次是引入TCS生長體系,在理論基礎上,設備應從硅烷體系發(fā)展到了氯基體系,外延設備也陸續(xù)實現(xiàn)國產(chǎn)替代;再次就是未來4H-SiC外延生長將向多片式、大尺寸、高均勻性、低缺陷方向發(fā)展;最后,為了使器件的性能能夠進一步提升,通過外延來實現(xiàn)部分器件結構,主要是開發(fā)SiC外延溝槽填充技術,進一步降低器件的導通電阻;在高壓應用方面,厚膜生長技術比較滯后,未來需要解決的技術有:厚膜少子壽命,缺陷控制,材料的均勻性。
 
嘉賓簡介
鈕應喜博士,主要從事第三代半導體材料和器件的研制;申請國家專利64項;牽頭編制國家標準兩項,發(fā)布行業(yè)標準一項,團體標準多項。發(fā)表論文40余篇;作為項目負責人主持安徽省重大項目2項;作為任務課題負責人承擔2項國家重點研發(fā)計劃和863項目。為教授級高級工程師,安徽省技術領軍人才;國際IEC及SEMi化合物標準會委員;全國半導體器件、全國半導體材料標準委員會委員。
 
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