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長鑫存儲(chǔ)“一種控制方法、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器和電子設(shè)備”專利公布

日期:2023-10-12 閱讀:232
核心提示:天眼查顯示,長鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司一種控制方法、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器和電子設(shè)備專利公布,申請(qǐng)公布日為10月3日,申請(qǐng)公布號(hào)為CN1168446

 天眼查顯示,長鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司“一種控制方法、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器和電子設(shè)備”專利公布,申請(qǐng)公布日為10月3日,申請(qǐng)公布號(hào)為CN116844621A。

圖片來源:天眼查

專利摘要顯示,本公開實(shí)施例提供了一種控制方法、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器和電子設(shè)備,針對(duì)于預(yù)設(shè)測試模式提供了數(shù)據(jù)掩碼引腳的阻抗控制策略,不僅能夠定義數(shù)據(jù)掩碼引腳在預(yù)設(shè)測試模式中的阻抗,而且明確了DDR5中用于控制數(shù)據(jù)掩碼引腳使能與否的控制信號(hào)和PODTM中用于控制數(shù)據(jù)掩碼引腳是否為測試對(duì)象的控制信號(hào)的關(guān)系,在預(yù)設(shè)測試模式下能夠測試數(shù)據(jù)掩碼引腳的阻抗,避免出現(xiàn)電路處理錯(cuò)誤。

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