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北方華創(chuàng)“一種半導(dǎo)體設(shè)備及其晶圓傳輸腔室和晶圓傳輸方法”專利獲授權(quán)

日期:2023-11-16 閱讀:252
核心提示:天眼查顯示,北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司一種半導(dǎo)體設(shè)備及其晶圓傳輸腔室和晶圓傳輸方法專利獲授權(quán),授權(quán)公告日為11月14日,

天眼查顯示,北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司”一種半導(dǎo)體設(shè)備及其晶圓傳輸腔室和晶圓傳輸方法“專利獲授權(quán),授權(quán)公告日為11月14日,授權(quán)公告號(hào)為CN111261565B。

專利摘要顯示,本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體設(shè)備及其晶圓傳輸腔室和晶圓傳輸方法,其中晶圓傳輸腔室包括,抽氣組件,用于從所述腔室本體中抽氣;標(biāo)記檢測組件,位于所述腔室本體中,用于檢測晶圓上的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記;定位校準(zhǔn)組件,位于所述腔室本體中,用于承載晶圓,帶動(dòng)晶圓旋轉(zhuǎn),并在所述標(biāo)記檢測組件檢測到所述對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記后,逐漸停止旋轉(zhuǎn),使晶圓停止在一預(yù)設(shè)位置處。

據(jù)悉,本發(fā)明的有益效果在于,在對(duì)晶圓傳輸腔室抽真空的過程中通過標(biāo)記檢測組件檢測晶圓的對(duì)位標(biāo)記,通過定位校準(zhǔn)組件實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓的定位校準(zhǔn),將原來分步進(jìn)行的步驟(晶圓定位校準(zhǔn)和腔室抽真空)合并在一個(gè)步驟中同時(shí)進(jìn)行,縮短了晶圓的傳輸時(shí)間,提高了機(jī)臺(tái)的使用效率。

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