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中芯集成-U取得半導(dǎo)體器件專利,可更為精確控制電極材料層消耗量

日期:2024-01-08 閱讀:232
核心提示:據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告,紹興中芯集成電路制造股份有限公司取得一項名為半導(dǎo)體器件及其形成方法,授權(quán)公告號CN111740717B,申請日

 據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告,紹興中芯集成電路制造股份有限公司取得一項名為“半導(dǎo)體器件及其形成方法“,授權(quán)公告號CN111740717B,申請日期為2020年2月。專利摘要顯示,本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體器件及其形成方法。在形成圖形化的光阻層之前,還在電極材料層上形成掩模材料層,并且在對掩模材料層執(zhí)行圖形化工藝時,僅將光阻層中的電極圖形復(fù)制至掩模材料層的上部分中,從而在去除光阻層的過程中,可避免用于去除光阻層的剝離液侵蝕電極材料層。以及,在圖形化的掩模層的掩模下,結(jié)合裁剪工藝進一步圖形化電極材料層,以構(gòu)成電極層,進而可以更為精確的控制電極材料層的消耗量,有利于保障所形成的電極層的性能。

(來源:金融界)

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