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比亞迪半導體申請終端結構及其制造方法以及功率器件專利,能夠提高耐壓值

日期:2024-03-08 閱讀:247
核心提示:據(jù)國家知識產(chǎn)權局公告,比亞迪(002594)半導體股份有限公司申請一項名為終端結構及其制造方法以及功率器件,公開號CN117673117A

據(jù)國家知識產(chǎn)權局公告,比亞迪002594)半導體股份有限公司申請一項名為“終端結構及其制造方法以及功率器件“,公開號CN117673117A,申請日期為2022年8月。

專利摘要顯示,本發(fā)明屬于半導體技術領域,特別是涉及終端結構及其制造方法以及功率器件。終端結構包括第一電極層、絕緣介質層、襯底和第二電極層,絕緣介質層、襯底和第二電極層層疊設置,襯底上設置有主結、摻雜場終止環(huán)、第一場限環(huán)和摻雜層,主結設置在襯底的內側,摻雜場終止環(huán)設置在襯底的外側,第一場限環(huán)環(huán)繞主結,摻雜層沿著第一場限環(huán)的一側的外壁延伸至第一場限環(huán)的底部;摻雜層的摻雜濃度大于襯底的摻雜濃度。本發(fā)明實施例提供的終端結構,摻雜層摻雜濃度大于襯底的摻雜濃度,能夠對電場具有牽引作用,從而減輕電場在絕緣介質層表面的集中作用,減小表面電場,提高擊穿電壓,提高耐壓值。

 

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