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安徽長(zhǎng)飛先進(jìn)半導(dǎo)體申請(qǐng)半導(dǎo)體器件相關(guān)專(zhuān)利,使半導(dǎo)體器件獲得更好的散熱結(jié)構(gòu)以及更低的電阻率

日期:2024-11-04 閱讀:258
核心提示:國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,安徽長(zhǎng)飛先進(jìn)半導(dǎo)體有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為半導(dǎo)體器件的處理方法及半導(dǎo)體器件的專(zhuān)利,公開(kāi)號(hào)CN 118888436

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,安徽長(zhǎng)飛先進(jìn)半導(dǎo)體有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“半導(dǎo)體器件的處理方法及半導(dǎo)體器件”的專(zhuān)利,公開(kāi)號(hào)CN 118888436 A ,申請(qǐng)日期為2024年7月。

專(zhuān)利摘要顯示,本發(fā)明公開(kāi)了一種半導(dǎo)體器件的處理方法,包括:提供半導(dǎo)體器件,所述半導(dǎo)體器件包括碳化硅襯底和位于所述碳化硅襯底一側(cè)的外延層;對(duì)所述碳化硅襯底遠(yuǎn)離所述外延層的一側(cè)進(jìn)行減薄處理;在所述碳化硅襯底遠(yuǎn)離所述外延層的一側(cè)形成凹槽,且所述凹槽的深度小于或者等于所述碳化硅襯底的厚度;在所述碳化硅襯底遠(yuǎn)離所述外延層的 側(cè)形成金屬層且所述金屬層填充所述凹槽本發(fā)明的半導(dǎo)體器件的處理方法,通過(guò)在碳化硅襯底上進(jìn)行背面凹槽刻蝕,并在凹槽中填充金屬,使得半導(dǎo)體器件能夠獲得更好的散熱結(jié)構(gòu)以及更低的電阻率。本發(fā)明還公開(kāi)了一種半導(dǎo)體器件。

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