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CASA立項“半導體材料紫外光電子能譜測試方法”等2項團體標準

CASA立項“氮化鋁晶片位錯密度檢測方法腐蝕坑密度測量法”等2項氮化鋁團體標準

IFWS&SSLCHINA2024|CASA9項 SiC MOSFET測試與可靠性標準發(fā)布

CASA立項GaN HEMT非鉗位感性負載開關魯棒性測試方法1項團體標準

CASA立項SiC MOSFET動態(tài)/穩(wěn)態(tài)高溫工作壽命試驗方法2項團體標準

CASAS SiC功率器件與模塊工作組第二次會議成功召開

CASA與CSA共同立項團體標準《面向光治療的柔性LED光源拉伸度測試方法》

CASA立項《碳化硅單晶生長用等靜壓石墨》標準

CASA立項11項SiC MOSFET測試類團體標準

CASAS正式成立SiC/GaN功率器件與模塊工作組

CASA標準SiC MOSFET閾值電壓測試方法征求意見

CASA正式發(fā)布《8英寸碳化硅襯底片基準標記及尺寸》等3項團體標準

CASA理事長吳玲：第三代半導體產業(yè)發(fā)展戰(zhàn)略思考

CASA發(fā)布《SiC MOSFET功率器件的應用可靠性評價技術體系報告》

標準/山東大學牽頭起草的T/CASAS 025—202X《8英寸碳化硅晶片基準標記及尺寸》等3項團體標準征求意見

CASA發(fā)布《分立GaN HEMT功率器件動態(tài)電阻評估》技術報告

CASA發(fā)布T/CASAS 022-2022 三相智能電表用氮化鎵場效應晶體管通用技術規(guī)范

標準 | CASA立項《射頻GaN HEMT結構的遷移率非接觸霍爾測量方法》等5項團體標準

CASA立項《碳化硅少數(shù)載流子壽命測定微波光電導法》等2項團體標準

深圳先進連接牽頭起草的T/CASAS 023—202X《寬禁帶半導體封裝用燒結銀膏技術規(guī)范》征求意見

深圳智芯微牽頭T/CASAS 022《三相智能電表用氮化鎵場效應晶體管通用技術規(guī)范》征求意見

標準 | 電子五所牽頭的T/CASAS 005《用于硬開關電路的GaN HEMT動態(tài)導通電阻測試方法》形成委員會草案

CASA聯(lián)盟發(fā)布SiC MOSFET功率循環(huán)試驗/結殼熱阻測試2項團體標準

CASA立項《8英寸碳化硅晶片基準標記及尺寸》團體標準

CASA第二屆第一次會員大會暨第一次理事會在京順利召

CASA秘書長于坤山：功率半導體器件技術發(fā)展現(xiàn)狀與前景展望

重磅！CASA發(fā)布《寬禁帶半導體術語》1項團體標準

眾多領導、院士專家紛紛建言獻策，助推我國第三代半導體產業(yè)發(fā)展

CASA聯(lián)盟獲頒中國教育發(fā)展戰(zhàn)略學會產教融合專業(yè)委員會常務理事單位

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