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重慶芯聯(lián)微電子申請掩膜版圖形及其優(yōu)化方法專利,解決集成電路版圖工藝
缺陷
評論 ?
2024-10-31 17:17
蘇州高視半導體申請基于晶圓檢測系統(tǒng)的晶圓檢測方法專利,降低晶圓
缺陷
的檢測成本
評論 ?
2024-10-28 17:43
杭州鎵仁半導體申請氧化鎵單晶襯底拋光片劃片方法專利,減少切割道周邊晶片解理、崩裂和微裂紋等
缺陷
的產生
評論 ?
2024-10-21 10:26
瀚天天成“一種降低碳化硅外延片生長
缺陷
的方法及碳化硅襯底”專利獲授權
評論 ?
2024-08-29 16:08
普興電子6英寸低密度
缺陷
碳化硅外延片產業(yè)化項目環(huán)評第二次公示
評論 ?
2024-08-23 16:03
博視像元獲1.3億元A輪融資,產品應用于晶圓
缺陷
檢測等領域
評論 ?
2024-08-21 11:10
CASICON晶體大會前瞻|山東大學徐現(xiàn)剛:低
缺陷
碳化硅單晶進展及展望
評論 ?
2024-06-06 15:36
CASICON晶體大會前瞻 |創(chuàng)銳光譜金盛燁:瞬態(tài)光譜技術及其在SiC晶圓
缺陷
檢測中的應用
評論 ?
2024-06-03 14:43
CASICON晶體大會前瞻 |廣東工業(yè)大學張紫輝:界面
缺陷
效應對 GaN功率電子器件的影響研究
評論 ?
2024-05-29 11:12
御微半導體首臺掩?;?span id="syc4mqy" class="highlight">缺陷檢測產品交付國內先進掩模廠
評論 ?
2024-05-15 15:21
CSPSD 2024成都前瞻|大連理工大學王德君:SiC半導體表界面
缺陷
及MOS器件可靠性
評論 ?
2024-04-18 13:47
高視半導體納米級圖形晶圓
缺陷
檢測量產設備出口馬來西亞頭部客戶
評論 ?
2024-01-30 15:05
IFWS 2023│中國科學院半導體所閆果果:6英寸碳化硅外延生長及深能級
缺陷
研究
評論 ?
2023-12-07 17:38
IFWS 2023│廈門大學徐翔宇:氧化鎵
缺陷
研究,合金工程電子結構調制以及日盲光電探測器的開發(fā)
評論 ?
2023-12-05 16:32
IFWS 2023│清軟微視周繼樂:化合物半導體襯底和外延
缺陷
無損檢測技術
評論 ?
2023-12-04 15:13
廈門大學徐翔宇:氧化鎵
缺陷
、合金化電子結構調控及日盲光電探測器研究
評論 ?
2023-08-03 10:55
西安電子科技大學孫汝軍:氧化鎵的電子態(tài)
缺陷
研究
評論 ?
2023-08-01 14:23
CASICON西安站前瞻|西安電子科技大學孫汝軍:氧化鎵的電子態(tài)
缺陷
研究
評論 ?
2023-07-13 15:20
華工科技2022年營收凈利雙增 SiC襯底外觀
缺陷
檢測設備實現(xiàn)國產替代應用
評論 ?
2023-03-01 11:15
重大突破!科友半導體碳化硅躋身8吋行列,晶體無
缺陷
最大直徑超過204毫米
評論 ?
2022-12-30 08:27
英諾激光:目前公司產品在芯片制造領域的應用為晶圓加工
缺陷
檢測、碳化硅退火等制造工序
英諾激光
芯片制造
晶圓加工
缺陷檢測
碳化硅
退火等
制造工序
評論 ?
2021-07-26 10:54
澳大利亞格里菲斯大學Jisheng HAN:4H-SiC MOS器件中活性
缺陷
的量化表征
評論 ?
2020-12-23 15:25
天津工業(yè)大學于莉媛:GaN基器件電子輻照誘生
缺陷
表征和性能分析
評論 ?
2020-12-03 18:02
臺積電稱EUV技術讓5納米芯片不良率反低于7納米
納米
密度
缺陷
不良
工藝
制造工藝
評論 ?
2020-08-27 02:28
仍存“
缺陷
”!英特爾7nm芯片生產時間推遲半年上市
英特爾
納米
芯片
制程
工藝
延遲
評論 ?
2020-07-24 06:32
KLA推出全新突破性的電子束
缺陷
檢測系統(tǒng)
電子束
缺陷
系統(tǒng)
檢測
器件
技術
評論 ?
2020-07-21 05:52
ASML首款用于5nm制程的多光束檢測工具問世
光束
工具
吞吐量
缺陷
計量學
檢測
評論 ?
2020-06-02 01:26
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